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產(chǎn)品技術(shù)|光華科技5G低損耗壓合前處理鍵合劑,助力5G高速發(fā)展與應用
信息來(lái)源:光華科技2021-08-25

核心導讀


新一代電子信息技術(shù)浪潮的推動(dòng)下,電子電路基材向高頻化、高速化發(fā)展。開(kāi)發(fā)無(wú)粗化(或低粗化)銅面的處理工藝,是目前在面向5G通訊技術(shù)的高頻高速電子電路制造中亟需解決的新課題,低粗糙度、強結合力、高可靠性必然是其研究和未來(lái)產(chǎn)業(yè)化方向。光華科技開(kāi)發(fā)的鍵合劑SF-2002采用“微粗化+鍵合劑”的組合模式,能有效減少信號插入損耗,提升電性能收益,可靠性達到傳統棕化產(chǎn)品的水平,取得終端客戶(hù)認證。目前已經(jīng)在5G通信行業(yè)領(lǐng)導品牌M客戶(hù)和國內中高端印制電路板領(lǐng)先品牌W客戶(hù)上線(xiàn)作批量測試,客戶(hù)反饋良好,性能優(yōu)于原有的產(chǎn)品。面對發(fā)展迅猛的5G甚至6G技術(shù),多層板壓合前處理制程中,銅表面粗糙度要求進(jìn)一步降低,光華科技在該領(lǐng)域仍在深入研究,向下一代“納米粗化”到“無(wú)粗化”技術(shù)不斷創(chuàng )新前進(jìn),為客戶(hù)創(chuàng )造價(jià)值。

目 錄

1、5G對材料及表面處理的新要求

2、鍵合劑SF-Bond 2002工藝流程介紹

3、鍵合劑SF-Bond 2002性能表現

4、總結與展望



1、5G對材料及表面處理的新要求

隨著(zhù)新一代電子信息技術(shù)(5G)的迅速發(fā)展,超快速度的信息處理和超高容量的信息傳輸需求迫使電子電路基材(主要為覆銅板)向高頻化、高速化發(fā)展。高頻信號的高速傳輸,會(huì )產(chǎn)生信號損耗,并且頻率越高,損耗越大。眾所周知,信號傳輸整體損耗主要包括介質(zhì)損耗和導體損耗,具體影響因素如圖1所示:

▲圖1 PCB信號傳輸的影響因素

為應對這一挑戰,一方面,可以采用low Dk和low Df的樹(shù)脂減少介質(zhì)損耗;另一方面,通過(guò)使用超低輪廓(HVLP)的銅箔減少導體損耗。但隨著(zhù)傳輸頻率的升高,由于趨膚效應,表界面粗糙度會(huì )對高頻高速信號造成損耗,尤其是在毫米波段(30-300 GHz),表面粗糙度對信號傳輸影響非常大[1-4],如圖2所示。

▲圖2 銅的趨膚深度計算

因此,開(kāi)發(fā)無(wú)粗化(或低粗化)銅面的處理工藝,是目前在面向5G通訊技術(shù)的高頻高速電子電路制造中亟需解決的新課題[5],低粗糙度、強結合力、高可靠性必然是其研究和未來(lái)產(chǎn)業(yè)化方向。但低粗糙度和強結合力、高可靠性是相互矛盾的。為解決此問(wèn)題,一個(gè)有效的方法是在低粗糙度銅面處理后,通過(guò)引入有機鍵合劑[6],利用其化學(xué)作用力和微粗化的機械互鎖共同作用,取代傳統粗化的機械嵌鎖作用,滿(mǎn)足面向5G高頻高速覆銅板的低信號插損、強結合力和高可靠性要求。

光華科技的鍵合劑SF-Bond 2002正是基于以上理念開(kāi)發(fā)的低粗糙度壓合前處理藥水,用于高頻高速領(lǐng)域高多層板壓合前處理,目標是取代傳統的棕化處理工藝。

2、鍵合劑SF-Bond 2002工藝流程

3、鍵合劑SF-Bond 2002性能表現

(1).低微蝕量——全流程微蝕量為0.50-0.80μm,對線(xiàn)寬基本無(wú)影響,對于精細線(xiàn)路控制極為有利。

(2).低粗糙度——全流程處理后,表面粗糙度Rz<1.50μm,比表面積Sdr<115%,遠遠優(yōu)于業(yè)界現用低粗糙度棕化藥水。

①.不同板材和銅箔鍵合處理前后的粗粗糙度、比表面積對比:

②.鍵合劑SF-Bond 2002與其他低粗糙度棕化藥水對比——M7GE材料(南亞HVLP2銅箔)。

(3).電性能收益——信號衰減水平遠遠優(yōu)于傳統棕化液和現用低粗糙度棕化液,達到終端客戶(hù)的驗收標準。

①.與普通棕化對比——SF-Bond 2002相比普通棕化藥水有優(yōu)異的電性能收益;而且對于Low Loss等級材料,SF-Bond 2002帶來(lái)的電性能收益與升級材料相當,但成本卻大大降低。


②.與A公司低粗糙度藥水對比——對于M7級別以上的材料,電性能提升約3%(@14GHz),達到終端客戶(hù)的驗收要求。


(4).剝離強度——鍵合劑SF-Bond 2002搭配多種高速材料,經(jīng)過(guò)260℃ IR Reflow 5次后剝離強度保持穩定;對于M7以上級別的材料,剝離強度優(yōu)于現用低粗糙度棕化藥水。

(5).高多層板可靠性測試——28層板,過(guò)5次IR后BGA位置和散熱孔沒(méi)有出現裂紋、分層的現象,可靠性達到要求。

(6).長(cháng)期可靠性測試——28層板,長(cháng)期可靠性合格,達到終端客戶(hù)的驗收標準。

4、總結與展望

光華科技開(kāi)發(fā)的鍵合劑SF-2002采用“微粗化+鍵合劑”的組合模式,能有效減少信號插入損耗,提升電性能收益,可靠性達到傳統棕化產(chǎn)品的水平,取得終端客戶(hù)認證。目前已經(jīng)在5G通信行業(yè)領(lǐng)導品牌M客戶(hù)和國內中高端印制電路板領(lǐng)先品牌W客戶(hù)上線(xiàn)作批量測試,客戶(hù)反饋良好,性能優(yōu)于原有的產(chǎn)品。

面對發(fā)展迅猛的5G甚至6G技術(shù),多層板壓合前處理制程中,銅表面粗糙度要求進(jìn)一步降低,光華科技在該領(lǐng)域仍在深入研究,向下一代“納米粗化”到“無(wú)粗化”技術(shù)不斷創(chuàng )新前進(jìn),為客戶(hù)創(chuàng )造價(jià)值。

參考文獻: 
[1] 毛英捷. 印制電路銅面粗化效果對信號完整性的影響研究[D]. 成都:電子科技大學(xué), 2017.
[2] 文娜. 高頻印制電路銅面平整化修飾技術(shù)及工藝研究[D]. 成都:電子科技大學(xué), 2017.
[3] 余振中. 銅箔粗糙度對高速材料信號損耗影響分析[J]. 覆銅板資訊, 2016, 2:30-38. 
[4] 林金堵. 信號傳輸高頻化和高速數字化對 PCB 的挑戰(1)——對導線(xiàn)表面微粗糙度的 要求[J]. 印制電路信息, 2008, 10:15-18.
[5] T. Devahif, C. Foil, W. Luxembourg. Ultra Low Profile Copper Foil for Very Low Loss Material[J]. Proceedings of SMTA International, 2016, 888-893. 
[6] 三浦昌三, 村井孝行, 奧村尚登, 谷岡宮, 勝村真人, 山地范明. 唑硅烷化合物、表面 處理液、表面處理方法及其利用[P]. 中國: CN105358563B, 2018.03.30.


END

廣東光華科技股份有限公司始創(chuàng )于1980年,集產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售和服務(wù)為?體,以高性能電子化學(xué)品、高品質(zhì)化學(xué)試劑與產(chǎn)線(xiàn)專(zhuān)用化學(xué)品、新能源材料和動(dòng)力電池回收、綜合利用為主導,同時(shí)提供其他專(zhuān)用化學(xué)品的定制開(kāi)發(fā)及技術(shù)服務(wù),致力成為國際高端專(zhuān)用化學(xué)品創(chuàng )新與整體技術(shù)服務(wù)方案領(lǐng)跑者,助力國家技術(shù)革新,引領(lǐng)產(chǎn)業(yè)鏈高質(zhì)量發(fā)展。



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